動態光散射納米粒度儀是采用的動態光散射的原理，簡單來說是通過測量納米顆粒的布朗運動導致的顆粒散射光的波動來實現粒徑的檢測。基本原理是：小顆粒的布朗運動速度快使得散射光波動快；大顆粒的布朗運動速度慢導致散射光波動慢。光電探測器接收到散射光的波動信號，然后將信號輸送到儀器內的相關器進行數據處理，然后而得到各項測試結果。儀器的兩大核心技術是：
 

　　1、準確檢測并記錄其微弱且快速變化的動態散射光信號。
 

　　2、根據動態散射光信號，經過復雜的數學模型分析計算后準確的解析出相關的粒度數據。
 

　　動態光散射納米粒度儀的核心器件——光電探測器：
 

　　目前納米粒度儀主流的使用的探測器有兩種：一是PMT光電倍增管，二是雪崩光電探測器APD。PMT光電倍增管它是一種真空光電器件(真空管)。它的工作原理是建立在光電效應(光電發射)、二次電子發射、電子光學理論基礎上的。PMT光電倍增管已經面世多年，其生產工藝及應用技術已經非常成熟穩定，但是已經很難再有更上一層樓的技術進步。它要的優點就是技術成熟，不足之處在于靈敏度稍低和背景電噪聲不穩定。
 

　　利用載流子的雪崩倍增效應來放大光電信號以提高檢測的靈敏度。具備單光子探測能力，與已經廣泛使用的光電倍增管(PMT)相比，APD具有全固態結構，量子效率高的特點，并可以在高增益下保持良好的信噪比。由于APD是工作在蓋革模式下，單個門控周期得到的是0和1組成的數字矩陣，對微弱光子信號的長時間積分不會引入熱噪聲，加之其信號的傳輸不需要經過模數和數模轉換減少了隨機噪聲等誤差源。